交通大學 積體電路測試技術 - 課程

※ [本文轉錄自 Refresh 看板 #1IGLkQCN ]

作者: suehung001 (suehung) 看板: Refresh
標題: [新竹] 交通大學 積體電路測試技術
時間: Tue Sep 24 17:29:59 2013

課程名稱 P102209 積體電路測試技術
《數位IC之Scan Design與Test Pattern自動產生技術》

開課時數 15小時

上課費用 一般價5,000元

特約廠商、3人以上團報4,000元 峡查詢特約商明錄 峡立即加入特約廠商
同服務單位五人以上團報3,000元

開課日期 102年9月24日至10月8日 每週二、三 晚間18:30~21:30

開課地點 交通大學工程四館教室與電腦教室
（教室地點於課前，以行前通知另行公佈）

地址：新竹市大學路1001號

招生對象 半導體產業暨相關系統業者之在職人士或有相關技術需求者

結訓 本課程核發「結訓證書」依據為出席率8成以上（依據簽到退表資料）
課程目標 本課程為積體電路測試技術課程，期讓學員深入瞭解測試技術。邀請測試領域
的專家，詳細介紹傳統與最先進的測試與可測試設計技術。學員在學習之後，不但能夠解
決多樣化積體電路(IC)測試的問題，更能夠在設計之中加入測試的概念，設計出高品質與
低測試成本的IC。

課程大綱 1. Introduction to scan design
2. Fundaments of fault simulation & ATPG
3. Scan chain insertion & ATPG with scan design (實作)

授課師資 趙家佐 教授
現職：國立交通大學電子工程系助理教授
經歷：美國加州大學聖塔芭芭拉分校 研究助理
NEC紐澤西研究實驗室 研發人員
專長：Statistical timing analysis、delay testing、test-response 、
compaction、physical automation、low-power testing

報名網址:http://submic.ee.nctu.edu.tw/curriculum/curriculum.php?Sn=390

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